Obishi Keiki Seisakusho 편심 검사기(특수 제작 예)
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편심 검사기 특별 제작 예
[ 형식：SW-115형 ]
다단 외경의 센터리스 샤프트의 편심 측정이 가능한 검사기입니다.
V 받침의 한쪽은 μm 단위의 고정밀도 높이 조정이 가능합니다.
편심 측정뿐만 아니라 외경 오차의 측정도 가능합니다.
기본 사양
| 공작물 직경 | φ3 ～φ30mm |
| 공작물 길이 | 최대 300mm |
| V 수용 평행도 | 0.003mm |
| 조정측 이동 범위 | ±10mm |
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